一、主要部件：
JEOLJEM-2100F主机、X射线能谱仪（EDS）、电子能量损失谱仪(EELS)。
二、主要性能指标：
1、点分辨率：0.24nm；
2、线分辨率：0.10nm；
3、加速电压：100, 120, 160, 200kV；
4、倾斜角：25度；
5、STEM分辨率：0.20nm。
三、设备特点及应用范围：
JEM-2100F透射电子显微镜系日本电子株式会社（JEOL）产品。该电镜的加速电压为200kV，具有透射（TEM）、会聚束衍射（CBED）以及纳米束衍射（NBD）等工作模式，并且可与能谱仪联机，进行样品成分分析。其点分辨率和线分辨率分别为0.19nm和0.1nm；STEM分辨率为0.20nm;放大倍数达150万倍。利用其不仅可以获得样品的高分辨率电子显微像，而且还可对样品微区作纳米尺度的结构与成分分析。因而JEM-2100F广泛应用于材料科学、生命科学、半导体、纳米技术等领域。
