能谱仪

能谱仪

仪器简介：

能谱仪(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。EDS可以与EPMA，SEM，TEM等组合，其中SEM－EDS组合是应用最广的显微分析仪器，EDS的发展，几乎成为SEM的标配。是微区成份分析的主要手段之一。

技术参数：

Genesis Apollo X / XL(Standard SDD)

1. 探测器：

a.有效晶体面积：10mm2，30mm2

b.FET配置：集成于SDD芯片内

c.分辨率：优于127eV，分辨率测试条件：100,000CPS

d.技术特点：可工作于更短的时间常数(AmpTime)或更高的计数率而分辨率不下降

适应对象：几乎所有SEM，钨灯丝或场发射。性能良好，可以满足所有常规分析需要，性价比高。

2. 数字脉冲处理电子学 ：这是能谱采集与数字化处理的核心，Genesis Apex采用专门为SDD能谱探测器设计的DPP III数字脉冲处理系统，可处理的最大输入计数率从500,000CPS提高到> 1,000,000CPS，输出计数率从100,000CPS提高到350,000CPS。

主要特点：

1. 最新设计的探头，能保证轻元素端有更好的分辨率。

2. 设计的DPP III数字脉冲处理系统，可处理的最大输入计数率从500,000CPS提高到> 1,000,000CPS，输出计数率从100,000CPS提高到350,000CPS。

3． 增强的Genesis 6 分析软件：保留Genesis原来的特点，如HPD可见峰剥离、SEC因子提高轻元素的定量分析精度、全谱面分布和元素侦探器(Element Detective)、ViP低真空分析校正等外，新增强的功能包括：

EXpert ID——元素识别的一个创新性的新标准，她克服了传统的“基于规则”的峰识别技术准确识别重叠峰或弱小能谱峰的困难，运用了谱线之间物理关联的高级理念，同时结合传统的规则逻辑算法，就象一个物理专家一样帮助您进行复杂的峰识别，从而确保Peak ID的准确性。

SnapShot: 按照用户自定义的时间间隔自动采集能谱来研究电子束与试样的相互作用；

自动时间常数Auto：根据实验条件自动选取最价时间常数.

应用范围：1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析;

2、金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定;

3、可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析，如:金属化膜表面镀层的检测;

4、金银饰品、宝石首饰的鉴别，考古和文物鉴定，以及刑侦鉴定等领域;

5、进行材料表面微区成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、线点分布分析。