紫外/可见/近红外分光光度计

仪器名称：紫外/可见/近红外分光光度计

仪器型号：UH4150

生产厂家：日本，HitachiHigh-TechScienceCorporation

仪器简介：日立UV/Vis/NIR分光光度计UH4150自问世以来，对于在实际固体样品检测方面，例如半导体开发、光学样品和新材料领域的用户而言无疑是最佳的选择。UH4150的特点：1.双单色器棱镜-光栅光学系统—实现低偏振和低噪音测定。UH4150采用棱镜-光栅（P-G）双单色器的光学系统，与常见的光栅-光栅（G-G）系统相比，S和P偏振光强度没有大的改变。2.平行光束—高精度镜面反射率测定。3.信号水平抑制引起的检测器切换差异—提高精密度。4.可选多种检测器—实现最佳配置的光学系统。

主要参数：

光谱带宽紫外-可见区：0.01-2.4nm(0.01nm步进)，近红外区：2.4-8.0nm(0.02nm步进)

波长准确度紫外-可见光区：±0.2nm，近红外区：±1.0nm

杂散光(S.L.)≤0.00008%（220nmNaI）；≤0.00005%（380nmNaNO2）

波长范围：240-2600nm

自动程度：自动波长

波长范围：紫外可见近红外

接收器类：光电倍增管（PMT）

仪器结构：双光束

应用范围：粉末、玻璃、光学薄膜、等各种光学、电子设备材料的吸收/透过率/反射率的测试。