设备名称：高分辨X射线显微镜

设备厂家：蔡司（德国）

设备型号：Xradia 610 Versa

存放地点：明德楼D102

设备参数/要求：

1、空间分辨率：最佳三维空间分辨率≤0.5μm；当X射线源距样品旋转轴50mm时的最佳空间分辨率≤1.0μm；

2、最小可实现的体素（最大放大倍率下样品的体素大小）≤40 nm；

3、系统必须采用几何+光学两级放大的架构，以满足我单位对大样品进行局部高分辨率的成像需求。

4、无损伤地对样品进行三维组织表征，可获得样品的三维组织形貌及不同角度、不同位置的虚拟二维切片组织形貌信息。不需制样或只需简单制备，不需真空观察环境，不会引入人为缺陷

应用范围：可对各类金属材料、复合材料、生物组织（动物组织、植物组织）、油气地质及半导体样品进行高分辨无损三维成像及组织表征。